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老化筛选试验

by ZOUZOU


 

电子产品由于经历了元器件等物料的大量使用和复杂的加工,可能引入各种缺陷。无论是元器件缺陷还是加工缺陷,都可分为明显缺陷和潜在缺陷。明显缺陷是指导致产品不能正常工作的缺陷,例如短路、断路等。而潜在缺陷则使产品暂时可以使用,但在使用过程中缺陷会很快暴露,导致产品不能正常工作(例如虚焊,轻微振动就可能使焊点断裂而导致产品不可用)。


老化是通过对电子产品施加加速环境应力,如温度应力、电应力、潮热应力、机械应力等,在严苛的环境下促使产品的潜在缺陷加速暴露成故障,达到发现和剔除潜在缺陷的目的,尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。而通过老化的产品则进入可靠性高的品质稳定期。


老化的理论基础是电子产品的故障率曲线(简称浴盆曲线),如图1所示。老化以暴露潜在缺陷、剔除早期故障为目标,图中的A、B、C点均表示老化程度不足,老化后仍有较大比率的缺陷流入市场。理想的老化点为图中的D点,D点的选择主要靠经验数据。而E点则是过老化,这样既增加了老化成本,又可能将原本好的产品破坏,进而缩短产品的使用寿命。

 

图1  电子产品故障率曲线图

 

老化的效果还和施加的环境应力类型有关,常用的环境应力老化效果比较如图2所示,其中温度循环的老化效果最好。

 

图2  各种环境应力老化效果比较图


根据以往的故障分析统计数据以及各种物料的可耐受温度,我司产品的老化方式定为72小时、-40~85℃的高低温循环,理论上可100%筛选出早期故障的产品,使流入客户手中的都是经受住了考验的质量过硬的产品。

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